基于C8051F020的集成运放参数测试仪设计

摘要

基于C8051F020单片机设计的运算放大器闭环参数测试系统,采用辅助运放测试方法,可对运放的输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比以及单位增益带宽进行测量。系统利用DDS芯片AD9851实现了5HZ信号的输出和40kHz～4MHz扫频输出,具有自动量程转换、自动测量功能和良好的人机交互性。