基于改进神经网络的电子元件寿命预测

摘要

对于电子元件寿命预测问题,文章提出了基于改进神经网络电子元件寿命预测方法.根据试验测试获得的寿命数据,可以得出其对应的可靠性.文章通过结合改进的算法和BP神经网络结合,建立电子元件寿命预测模型,该模型可以对相同应力条件的电子元件寿命进行预测,也可以对应力加速条件下其寿命的预测.通过试验证明,改进模型比传统BP神经网络模型,大大降低了局部收敛情况,具有更强的非线性拟合能力和更高的准确率.