PAN基炭膜形成过程中表面元素状态的分析

摘要

用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）技术分析了由ＰＡＮ（聚丙烯腈）薄膜所制得的炭膜中碳，氮和氧三种元素的结合状态，在ＰＡＮ原膜中ＣＩｓ峰，Ｎｌｓ峰和Ｏｌｓ峰的结合能分别为２８４．６ｅｖ，３９９．４ｅｖ和５３１．７５ｅｖ。在整个热解过程中，样品中的Ｃ，Ｎ和Ｏ结构的功能团和转变的变化已被测定出。随着热解温度的提高，样品表面存在着不同化学状态的碳和不同形式的含氧基团，以及由单一氮结构转变为更加稳定地不同化量分别