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三维粗糙表面的高阶谱分析

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摘要

在分析二维的功率谱、自相关函数的基础上,利用三阶累积量的对角线切片,提出了一种可用于表征三维粗糙表面高度偏离高斯分布程度的双谱分析方法,并通过对几种典型精密加工试件的实验,表明了该方法的合理性.

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来源
《航空精密制造技术》|2003年第5期|26-28|共3页
作者
李成贵; 沈国帅;
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作者单位

北京航空航天大学自动化学院测控系,北京,100083;

北京航空航天大学自动化学院测控系,北京,100083;

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正文语种 chi
中图分类表面光洁度（表面粗糙度）的测量及其量仪;
关键词
表面形貌; 粗糙度; 高阶谱; 双谱;

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