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李成贵;
北京航空航天大学自动化学院测控系,北京,100083;
计量学; 表面粗糙度; 双谱; 参数表征; 矩谱; 偏斜度;
机译:关于锦标赛最大偏斜谱半径及最小偏斜能量
机译:模拟偏斜度和峰度对粗糙表面静摩擦系数的影响
机译:具有粗糙表面的超氟He-B的表面绑定状态谱的副谱
机译:ODF谱-取向分布各向异性程度的新综合表征
机译:在甲板放置期间,直的,偏斜的和弯曲的工字钢桥中的横向凸缘弯曲程度。
机译:通过具有不同程度的严重程度的狭窄的谱分解声音信号的流量和表征
机译:大倾角Wigner随机变量的高阶矩和谱范数 矩阵
机译:监测疲劳载荷谱的损伤严重程度
机译:产品,产品范围,计算机系统,图集,用于表征头发以及至少一根头发的扭曲和弯曲程度的过程,用于制造产品,用于突出头发组合物的有效性以及用于处理和表征程度的设备至少一根头发的扭曲和弯曲度
机译:离子迁移谱法的方法涉及确定和归一化峰和参数,这些峰和参数用于表征和描绘参考测量系列的每个离子迁移谱-参考谱中其位置的峰
机译:块码的低复杂度高阶矩阵计算器和高阶矩阵的计算方法
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