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泛华测控传感器测试系统再添新品——角位移传感器测试系统

     

摘要

2009年2月,北京中科泛华测控技术有限公司在深耕传感器测试领域又推出了新品——角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。

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  • 来源
    《自动化博览》|2009年第3期|62|共1页
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    无;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2023-07-24 22:58:38

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