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SENSOR OPENING TEST SYSTEM, SENSOR OPENING TEST MANAGEMENT TERMINAL, SENSOR, SENSOR OPENING TEST METHOD AND PROGRAM

机译:传感器开放测试系统,传感器开放测试管理终端,传感器,传感器开放测试方法和程序

摘要

The present invention is provided with a sensor-side metadata acquiring unit (10) that acquires sensor-side test metadata, an application-side metadata acquiring unit (11) that acquires application-side test metadata, a matching unit (12) that determines matching of acquired sensor-side test metadata and acquired application-side test metadata, and a dataflow control command instructing unit (13) that transmits a dataflow control command instructing test data flow to an opening test application from a sensor (1a-1c) or network adaptor (2) specified by matched sensor-side test metadata and the application-side test metadata.
机译:本发明具有获取传感器侧测试元数据的传感器侧元数据获取单元(10),获取应用侧测试元数据的应用侧元数据获取单元(11),确定匹配获取的传感器侧测试元数据和获取的应用侧测试元数据,以及数据流控制命令指示单元(13),该数据流控制命令指示单元将指示测试数据流的数据流控制命令从传感器(1a-1c)发送到打开的测试应用程序,或者由匹配的传感器侧测试元数据和应用程序侧测试元数据指定的网络适配器(2)。

著录项

  • 公开/公告号EP3541084A4

    专利类型

  • 公开/公告日2020-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OMRON CORPORATION;

    申请/专利号EP20170869549

  • 发明设计人 MISUMI SHUICHI;YAMATO TETSUJI;

    申请日2017-09-21

  • 分类号H04Q9;G06F11/22;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 11:40:25

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