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SENSOR OPENING TEST SYSTEM, SENSOR OPENING TEST MANAGEMENT TERMINAL, SENSOR, SENSOR OPENING TEST METHOD, AND COMPUTER PROGRAM

机译:传感器开放测试系统,传感器开放测试管理终端,传感器,传感器开放测试方法和计算机程序

摘要

The present invention is provided with a sensor-side metadata acquiring unit that acquires sensor-side test metadata, an application-side metadata acquiring unit that acquires application-side test metadata, a matching unit that determines matching of acquired sensor-side test metadata and acquired application-side test metadata, and a dataflow control command instructing unit that transmits a dataflow control command instructing test data flow to an opening test application from a sensor or network adaptor specified by matched sensor-side test metadata and the application-side test metadata.
机译:本发明提供有:获取传感器侧测试元数据的传感器侧元数据获取单元;获取应用侧测试元数据的应用侧元数据获取单元;确定所获取的传感器侧测试元数据的匹配的匹配单元;以及获取的应用侧测试元数据,以及数据流控制命令指示单元,用于将指示测试数据流的数据流控制命令从匹配的传感器侧测试元数据和应用侧测试元数据指定的传感器或网络适配器发送到开放的测试应用。

著录项

  • 公开/公告号US2019258553A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OMRON CORPORATION;

    申请/专利号US201716346550

  • 发明设计人 SHUICHI MISUMI;TETSUJI YAMATO;

    申请日2017-09-21

  • 分类号G06F11/22;G06F11/30;H04M11;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:08:56

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