泛华测控传感器再添角位移传感器测试系统

摘要

2009年2月，北京中科泛华测控推出了新品—角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。角位移传感器测试系统可在稳定的环境温度范围内，采用通讯方式获取DUT原始数据，并对DUT进行校准和编程，最后测量DUT的输出信号进行验证测试。