α能谱法测量核孔膜孔隙率

摘要

本文描述了一种应用α射线测量核子膜孔隙率的方法,使用经准直的单能α射线垂直照射核孔膜,在膜的另一侧测量透过膜的α射线能谱,通过分析测得的α射线能谱可得到该核孔膜的孔隙率.实验采用该方法测量了30张核孔膜的孔隙率,同时采用通常使用的显微分析法进行了测量,并对两种方法的测量结果进行了分析和比较.结果表明,采用该方法测量得到的孔隙率与采用显微分析法的测量结果在测量误差范围内符合很好,验证了该方法的可行性.