绝缘油耐压测试仪中CMOS器件的自锁现象及抑制措施

摘要

随着CMOS器件在电子设计领域中应用范围的日益广泛,对其性能可靠,抗干扰方面的要求也越来越高,而在特定环境下,其自身特有的自锁现象严重影响了系统的正常工作.本文针对最近开发的绝缘油耐压测试仪中出现的CMOS自锁现象及其抑制方法,系统分析了在电路设计中尤其是强电磁场等特殊环境下普遍存在的CMOS器件自锁现象产生的机理、触发条件和原因,并提出了抑制该类干扰的各种措施.