首页> 中文期刊> 《集成电路应用》 >日立开发出CMOS兼容的MEMS传感器工艺

日立开发出CMOS兼容的MEMS传感器工艺

         

摘要

日立中心研究实验室(东京)的研究人员宣布,他们已经开发出了与CMOS兼容的MEMS加工技术,可以在CMOS芯片的互连层上制造MEMS传感器。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号