样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响研究

摘要

制备以1cm厚度为间隔,共7组不同分装厚度同一批次的土壤样品,利用高纯锗γ谱仪对其进行多次测量。针对210Pb(46.5keV)、226 Ra(352keV)、232 Th(583keV)及40 K(1 460.8keV)4种不同能量的核素在考虑样品自吸收影响的前提下,研究不同能量下土壤样品厚度与探测效率之间的关系。实验结论如下:在同一能量下,样品厚度增加,立体角减小,其对γ射线的自吸收增大,探测效率逐渐减小且呈现对数关系。