高纯锗γ谱仪点源探测效率的蒙卡模拟计算

摘要

利用X光机透射成像获得了高纯锗探测器精确几何尺寸,在此基础上了用蒙特卡洛计算软件MCNP5C建立了点源模拟的物理模型.通过与实验测量对比,确定了探测器死层厚度.模拟计算了88～1408keV能量范围内的10个能量点的点源探测效率,与实验值偏差在0.1％～3.9％内,均方根差为1.7％,模拟计算结果满意.