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一种高纯锗探测器和高纯锗探测器测试系统

摘要

本申请公开了一种高纯锗探测器和高纯锗探测器测试系统,本申请的基于ASIC前置放大器的高纯锗探测器,通过低温液体裸浸直接制冷的运行方式,在保证能量分辨率的同时有效地降低了探测器自身本底;本申请的高纯锗探测器测试系统,通过手套箱创造出的低水氧含量测试环境,实现了基于ASIC前置放大器的高纯锗探测器的低温液体裸浸直接制冷的运行方式,并可重复操作。

著录项

  • 公开/公告号CN110727018A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201911017708.7

  • 发明设计人 田阳;李玉兰;唐维优;邓智;岳骞;

    申请日2019-10-24

  • 分类号G01T1/24(20060101);

  • 代理机构11262 北京安信方达知识产权代理有限公司;

  • 代理人李丹;栗若木

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2023-12-17 06:30:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/24 申请日:20191024

    实质审查的生效

  • 2020-01-24

    公开

    公开

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