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一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统

摘要

本实用新型公开一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,包括:测量单元、模拟单元、对比分析单元、数据处理单元;测量单元用于对辐射源的能谱进行能谱测量实验,获得辐射源的真实能谱;模拟单元用于对能谱测量实验进行蒙特卡洛模拟,获得辐射源的模拟能谱,模拟单元还基于参数优化后的蒙特卡洛模拟实验在不同能量下对辐射源进行模拟,获得辐射源的连续能谱;对比分析单元用于对比并分析真实能谱和模拟能谱,并对蒙特卡洛模拟实验进行参数优化;数据处理单元用于根据连续能谱进行能谱剂量转换,基于能谱剂量转换获得辐射剂量率。本实用新型仅通过一个高纯锗探测器就能实现辐射源测量,而且降低了能源浪费以及工作人员在实验中受到辐射的风险。

著录项

  • 公开/公告号CN215415904U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 内蒙古民族大学;

    申请/专利号CN202121933952.0

  • 申请日2021-08-18

  • 分类号G01T1/02(20060101);G01T1/36(20060101);

  • 代理机构11901 北京盛询知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘静

  • 地址 028000 内蒙古自治区通辽市科尔沁区霍林河大街22号

  • 入库时间 2022-08-23 02:42:49

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