SRAM存储器单粒子效应测试系统扩容的实现方法

摘要

正存储器的单粒子效应研究一直是国内外单粒子效应的热点。随着存储器件向深亚微米、超深亚微米方向迅速发展,其特征尺寸不断减小和集成度不断增加,单粒子效应更为显著,以往大尺寸中不明显的效应也突出显现出来。对大容量存储器单粒子效应试验研究是非常必要的。针对上述情况,目前所研制的小容量的SRAM存储器单粒