X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖的主次成分

摘要

利用高温熔融制备硅石、硅砖样品,应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量.通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线,研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例,脱膜剂加入量对制样重现性的影响,探讨了采用差量法计算所得结果的准确性.实验结果表明,该方法的测定值与标准认定值一致,相对标准偏差小于5％,满足了硅石中常见组分快速分析的要求.