脑外伤儿童围手术期高血糖的发生率及危险因素

摘要

背景 脑外伤后出现的高血糖与预后不良相关,本实验研究了脑外伤儿童围手术期发生高血糖的概率及危险因素.方法 以1994年至2004年间,港景医学中心(成人与儿童一级创伤中心)开展脑外伤(TBI)急诊开颅术的13岁以下儿童做回顾性群组研究.分别在手术前(从到达急诊室至开始全身麻醉)、手术中(全身麻醉期间)及手术后早期(手术后首个24小时)测试每例患者的血糖值,计算高血糖(血糖≥200 mg/d1)及低血糖(血糖<60 mg/d1)的发生率.持续性高血糖定义为在3个实验阶段中(手术前、手术中、手术后早期)有任意两阶段出现血糖升高,而暂时性高血糖是指有任意一阶段出现血糖升高.采用多元logistic回归分析来推测围手术期高血糖的独立预测因子,数据表示为经修正的比值比(AOR)(95%可信区间),p<0.05认为有统计学意义.结果 在每个实验阶段中至少记录1次血糖值:手术前(86[82%]),手术中(94[89%]),和手术后(101[97%]).在麻醉期间,有64%儿童的血糖测定次数不足每小时1次.47例(45%)儿童在3个实验阶段中至少有1次血糖升高,有29例儿童(28%)发生了暂时性高血糖,18例儿童(17%)发生了持续性高血糖.围手术期高血糖的独立预测因素为年龄<4岁(AOR[95%CI];3.5[1.2～10.6]),格拉斯哥昏迷评分≤8(AOR[95%CI];7.2[2.4～21.5])以及合并有硬膜下血肿的复合损伤(AOR[95%CI];34.712.3~525.5]).6例儿童使用胰岛素进行治疗,两例儿童出现了非胰岛素相关性低血糖.结论 围手术期高血糖是常见的,而手术中低血糖也并不少见.为了有效监测手术中高血糖及低血糖的发生概率,需要增加手术中血糖测定频率.年龄<4岁、严重的脑外伤和合并硬膜下血肿的复合损伤是围手术期高血糖发生的危险因素.