弹道电子发射显微镜对Au／n—Si（100）界面势垒的探测

摘要

用弹道电子发射显微镜对Ａｕ／ｎ－Ｓｉ（１００界面势垒测试，直接得出定点的势垒特性和纳米尺度的界面图象，通过所测的Ｉｃ－Ｖ曲线，可得所测点的肖特势垒高度及电荷传输性。界面图象可以显示界面极小范围内势垒的特性。