近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究

曹士娉; 马新文; A．Dom; M．Dürr; J．Ullrich

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近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究

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利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪,对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究,实验测量了反应后3个粒子的全部动量,获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术,集中分析反应后出射电子的动量能量关系,对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验,发现在入射电子能量为106 eV时,实验结果具有Wannier理论预言的性质.

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来源
《物理学报》 |2007年第11期|6386-6392|共7页
作者
曹士娉; 马新文; A．Dom; M．Dürr; J．Ullrich;
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作者单位

中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

中国科学院研究生院,北京,100049;

中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;

Max-Planck-Institute for Nuclear Physics, Saupfercheckweg 1, Heidelberg, Germany 69117;

Max-Planck-Institute for Nuclear Physics, Saupfercheckweg 1, Heidelberg, Germany 69117;

Max-Planck-Institute for Nuclear Physics, Saupfercheckweg 1, Heidelberg, Germany 69117;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类分子物理学、原子物理学;
关键词
近阈值He原子的双电离; 反应显微成像谱仪; 电子入射电离;

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