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掺稀土元素(Y,La)的γ-Si3N4的电子结构和光学性质

         

摘要

采用基于密度泛函的平面赝势方法(PWP)和广义梯度近似(GGA),计算了未掺杂和掺杂稀土(Y,La)的γ-Si3N4中N-Y(La)键的布居值和它们的键长、掺杂后能带结构和态密度.发现掺杂后的带隙要减小,并且可能形成新的半导体,这将为找到新的半导体提供一个方向.还进一步研究了掺杂稀土(Y,La)后的光学性质,掺杂后有更高的静态介电常数,可以作为新的介电材料和好的折射材料,这对于一定的光学元件有潜在的应用前景.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2007年第10期|5996-6002|共7页
  • 作者单位

    成都信息工程学院光电技术系,成都,610225;

    成都信息工程学院光电技术系,成都,610225;

    四川师范大学物理与电子工程学院固体物理研究所,成都,610068;

    成都信息工程学院光电技术系,成都,610225;

    四川师范大学物理与电子工程学院固体物理研究所,成都,610068;

    中国工程物理研究院流体物理研究所冲击波物理与爆轰物理重点实验室,绵阳,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    γ-Si3N4; 掺杂; 电子结构; 光学性质;

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