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岑态; 章岳光; 陈卫兰; 顾培夫;
复旦大学电光源与照明工程学系,上海,200433;
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,杭州,310027;
残余应力; HfO2薄膜; 沉积速率; 氧分压;
机译:氧分压对微晶,光学性质,残余应力和激光诱导无定形HFO2薄膜的影响
机译:沉积速率和氧分压对YSZ薄膜残余应力和微观结构的影响
机译:衬底偏压和氧分压对射频磁控溅射HfO2薄膜性能的影响
机译:离子辅助对不同离子源对HfO2薄膜光学性能,残余应力和激光诱导损伤阈值的影响
机译:研究工艺参数变化对离子束溅射Sc2O3和HfO2薄膜的材料性能和激光损伤性能的影响。
机译:射频等离子体增强化学气相沉积(RF PECVD)反应器中样品高度对氮化硅薄膜光学性能和沉积速率的影响
机译:远程等离子体原子层沉积生长HfO2薄膜及其HfO2 / Ge界面的性能
机译:沉积速率对脉冲激光烧蚀Bi2sr2CaCu2O(8 + x)和Bi2sr(1.6)La(0.4)CuO(66 + x)外延薄膜生长的影响。
机译:叠层压电薄膜结构,用于测量残余应力,可有效测量压电薄膜的残余应力
机译:薄膜的残余应力测量装置及薄膜的残余应力测量方法
机译:能够通过缩短源气体和反应气体之间的反应时间来提高沉积速率的薄膜制造装置以及使用该薄膜沉积薄膜的方法
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