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王俊平; 郝跃;
西安电子科技大学通信工程学院,西安,710071;
西安电子科技大学微电子学院,西安,710071;
缺陷空间分布; 缺陷粒径分布; 关键面积; 版图优化;
机译:XAS分析含有阴离子性NHC的二氯(钒)钒(V)配合物与弱配位的B(C6F5)3部分(WCA-NHC)或酚类配体与Al烷基的反应:WCA-NHC配体的潜在乙烯聚合催化剂
机译:用于半导体工艺的20nm滤光片的性能:评估20nm区域中的颗粒去除性能的方法和先进的滤光片性能
机译:半导体过程的20nm过滤器的性能:20nm区域的灭菌粒子性能评估方法和尖端滤波器的电力引入
机译:有效地实现子20NM技术节点的弱电池感知DRAM误差容差
机译:基于在线模型的光学系统自动对准和相位提取算法估计
机译:(Arylimido)钒(V)反应的XAS分析含有阴离子型NHC的二氯化物络合物含量微弱协调B(C6F5)3部分(WCA-NHC)或酚醛配体与烷基铝:潜在的乙烯聚合WCA-NHC配体的催化剂
机译:先进技术节点(<20nm)的FDSOI体系结构上的迁移率降低机制研究
机译:支持改进的IUE NEWsIps高色散提取算法的设计:改进的IUE高色散提取算法
机译:特征点提取算法评价装置及特征点提取算法评价方法
机译:CRC码与沃尔什码分配(WCA)标识符或/和终端标识符结合使用,以提供标识符的隐式传输
机译:自动包装盒特别适合浇铸wca ultiplo brida胶水。
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