Cu吸附(SiO2)n(n=1-8)团簇几何结构和电子性质的密度泛函研究

摘要

运用密度泛函理论下的广义梯度近似和交换关联函数对Cu吸附(SiO2)n(n=1-8)团簇的几何结构、电荷分布、稳定性和电子性质进行了较详细的研究,结果表明:Cu原子易于和带有悬挂键的Si原子作用并形成"铜岛膜";Cu吸附(SiO2)n团簇后Si原子失去电子能力减弱,O原子得到电子能力增强;Cu(SiO2)n(n=1-8)团簇与(SiO2)n(n=1-8)主体团簇稳定性上具有相似性,吸附Cu后团簇能隙明显降低,并接近近红外区域.