(La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3)_m(BiFeO_3)_n超晶格间隔的La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3三明治结构制备及表征

摘要

采用射频磁控溅射的方法在SrTiO3(001)基片上制备了(La0.7Sr0.3MnO3)m(BiFeO3)n超晶格间隔的La0.7Sr0.3MnO3三明治结构.X射线衍射分析证明(La0.7Sr0.3MnO3)m(BiFeO3)n具有明显的超晶格结构.电流垂直于薄膜表面测得的电阻-温度关系表明,(La0.7Sr0.3MnO3)m(BiFeO3)n超晶格薄膜在290K有金属-绝缘体转变,略低于单层La0.7Sr0.3MnO3薄膜的转变温度.电流在0.01—10mA范围内,观察到薄膜的峰值电阻随电流增大而减小,峰值变化率远大于单层La0.7Sr0.3MnO3薄膜,且随着超晶格周期厚度的增加而增大.低温下,电流-电压曲线表明其导电机制应主要为空间载子限制,且显示较大的电压偏置,表现出肖特基结的特性.