天体赤纬测定中的度盘精确定位与测微器精度研究

摘要

研究了天体赤纬测定中度盘定位的理论处理方法和测微器测量系统的误差及其修正方法。提出一种五点线性最小二乘的刻线定位方法，分析了影响测微器系统精度的原因，给出了这种误差的一种有效的测定和修正方法，经过系统误差修正后，大大提高了度盘的定位精度，可使通过对单一刻线的测量精度达到０．０４３″。