原始SiC颗粒表面及SiCp／Al复合材料界面化学状态的研究

摘要

本文采用Ｘ射线光电子谱和俄歇能谱技术对原始ＳｉＣ颗粒表面和粉末冶金法制备的ＳｉＣｐ／Ａｌ复合材料界面的化学状态进行了研究。