以N-N基团为单桥的双核Cu(Ⅱ)体系磁-结构关联的理论研究

摘要

在密度泛函理论的框架下,应用对称性破损方法,研究了以N-N基团为单桥的二嗪类双核Xu(Ⅱ)体系的磁耦合强度及磁-结构关联.计算结果表明,随着旋转角θ的减小,反铁磁性耦合作用逐渐减小,直至出现铁磁性耦合,与实验得到的趋势一致.破损态能量随着θ的增大发生逆转,先降低后增大.磁耦合常数J与(ε1-ε2)2的关系受到破损态能量逆转的影响.当θ由65°逐渐增大到140°时,破损态能量依次降低,J与(ε1-ε2)2呈线性关系;当θ=150°时,破损态能量发生逆转,由降低变为升高,二者不再保持原有线性关系.另外,(ε1-ε2)2与θ的关系也受到破损态能量逆转的影响.在θ=65°～140°范围内,J与θ以及(ε1-ε2)2与θ的图形相似,因此可用(ε1-ε2)2代替J讨论磁性与结构的关系;θ=150°时,二者图形不同.破损态能量的逆转对磁耦合常数J的影响不大,而旋转角θ是影响磁耦合常数的关键因素.