Southern Illinois University at Carbondale;
Fault location; Faults in chips; Polynomial-primitive element pair; Test pattern generation;
机译:通过递增延伸测试模式来实现多个粘附性故障的自动测试模式生成方法
机译:多个卡住故障的自动测试码型生成:当单个故障的测试不足时
机译:多个卡住故障的自动测试码型生成:当单个故障的测试不足时
机译:基于分区和存储的内置测试图案生成方法,用于扫描电路中的延迟故障
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:仅基于单端数据的基于小波变换和人工神经网络的六相输电线路故障检测分类与定位的改进方案
机译:内置自检技术,用于选择性检测存储器中的邻域模式敏感故障
机译:基于VHDL故障仿真可行性的故障仿真,故障分级和测试模式生成技术综述。