University of Florida;
机译:电和光应力作用下有机半导体器件的降解研究
机译:将光激发强度与电激发强度相关联的实验技术,用于半导体光电器件表征
机译:III-V型化合物半导体器件中的可靠性问题:光学器件和基于GaAs的HBT
机译:用于高级ULSI器件的薄半导体层的电气和光学表征
机译:用于恒定偏置微测辐射热计设备的高电阻率半导体的光学和电气特性。
机译:重新审视半导体的光学带隙并提出确定其的统一方法
机译:基于应力传感器对半导体器件电特性的影响研究。
机译:电气过压导致mOs(金属氧化物半导体)器件噪声特性的降低