Vanderbilt University.;
机译:基于中能离子散射飞行时间弹性反冲检测分析的超浅结分析技术
机译:飞行时间二次离子质谱法和接触角测量法研究环氧树脂的后固化反应和表面能
机译:结合飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)和高灵敏度低能量离子散射(HS-LEIS)对能源材料进行表面分析的新观点
机译:质子 - 反冲探测器,用于飞行时间测量中子的中子,其中一些小kev的动力学能量到几十甲基
机译:通过静态飞行时间二次离子质谱法研究半结晶聚合物的表面。
机译:通过飞行时间质谱法准确测定从解热梭菌中分离的主要表面蛋白的分子量。
机译:低能量二次离子质谱法用磨料覆铜材料污染研究。