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Auger line shape measurements using high resolution positron annihilation induced Auger electron spectroscopy.

机译:使用高分辨率正电子an灭感应俄歇电子能谱仪进行俄歇线形测量。

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摘要

Conventional methods of Auger electron spectroscopy (AES) make use of energetic electron or photon beams to create the core-hole excitations that lead to the Auger transition. The energetic beams result in a large secondary electron background in the Auger peak region. In Positron annihilation induced Auger Electron Spectroscopy (PAES), the core holes are created by matter-antimatter annihilation and not through collisional ionization. Measurements are reviewed which indicate that PAES can be used to eliminate the secondary electron background by using very low (
机译:俄歇电子能谱(AES)的常规方法利用高能电子或光子束来产生导致俄歇跃迁的芯孔激发。高能束在俄歇峰区域中产生较大的二次电子背景。在正电子an没感应俄歇电子能谱(PAES)中,芯孔是由物质-反物质an灭而不是通过碰撞电离产生的。回顾了测量结果,表明通过使用非常低的(

著录项

  • 作者

    Zhou, Haiqing.;

  • 作者单位

    The University of Texas at Arlington.;

  • 授予单位 The University of Texas at Arlington.;
  • 学科 Condensed matter physics.
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 1996
  • 页码 145 p.
  • 总页数 145
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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