University of Illinois at Urbana-Champaign.;
机译:厚度,晶粒尺寸和残余应力对Ba0.5Sr0.5TiO3薄膜介电性能的综合影响
机译:介电层的厚度和数量对微多层陶瓷电容器中残余应力的影响
机译:残余应力对钛酸锆钛酸铅(PZT)薄膜微驱动器的影响
机译:超薄膜钛酸锶钡中的残余应力,缺陷,介电极化和厚度效应
机译:喷涂过程中涂层厚度,传热和热残余应力的计算机建模。
机译:工艺参数对选择性激光熔化Ti6Al4V的残余应力和力学性能的影响
机译:残余应力对pZT薄膜电性能的影响
机译:表面增强钛合金中的残余应力,微观和宏观纹理:它们的无损检测和对高周疲劳性能的影响。