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第一章 绪论
1.1 研究背景及意义
1.2 国内外研究现状
1.3 论文内容及章节安排
第二章 存储器测试的相关理论
2.1 存储器简介
2.2 静态存储器故障概述
2.3 存储器测试算法概述
2.4 存储器测试算法实现方式
2.5 本章小结
第三章 存储模块测试配置的最优化研究
3.1 基本型存储模块的测试配置
3.2 增强型存储模块的测试配置
3.3 本章小结
第四章 存储模块BIST的实现
4.1 BIST架构的设计
4.2 BIST架构设计的推广
4.3 存储模块的协同测试
4.4 本章小结
第五章 总结及展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读硕士学位期间发表的论文