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面向MLC闪存的低密度校验码译码算法研究

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第一章绪论

2.2 NAND闪存的可靠性问题

4.1 引言

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作者
张旋;
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作者单位

西安电子科技大学;

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授予单位西安电子科技大学;
学科计算机科学与技术;计算机系统结构
授予学位博士
导师姓名慕建君;
年度 2019
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总页数
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP3TN9;
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