数模混合芯片AD/DA板级测试方法研究与实现

目录

声明

第一章 绪论

1.1 研究工作的背景与意义

1.2 国内外研究历史与现状

1.2.1 数模混合电路测试与故障诊断

1.2.2 数模混合电路中AD/DA的测试

1.3 本文研究内容及组织结构

第二章 数模混合芯片AD/DA板级测试的总体方案

2.1.1 数字边界扫描芯片结构

2.1.2 数字边界扫描链路

2.1.3 测试指令

2.1.4 基本测试类型

2.1.5 数字边界扫描测试系统构建

2.2 测试系统方案分析

2.3 测试指标

2.4 本章小结

第三章 数模混合芯片AD/DA板级测试链路设计

3.1 基于IEEE1149.1标准的边界扫描链路

3.1.1 数字边界扫描常见链路

3.1.2 簇测试

3.1.3 链路的可测试性设计要求

3.2.1 AD/DA板级测试链路实现

3.2.2 AD/DA板级测试链路改进

3.2.3 可测试性设计注意事项

3.3 本章小结

第四章 数模混合芯片AD/DA板级测试算法研究

4.1.1 测试向量生成原理

4.1.2 基本算法介绍

4.2.1 ADC的测试向量生成算法

4.2.2 DAC的测试向量生成算法

4.2.3 误差分析与数据处理

4.3 本章小结

第五章 上位机软件实现与系统验证

5.1 上位机软件设计

5.1.1 软件设计总体方案

5.1.2 边界扫描结构的完备性测试

5.1.3 网表文件及BSDL文件解析

5.1.4 测试向量的生成

5.2 测试系统的时序与流程

5.3 测试系统的验证

5.4 本章小结

第六章 全文总结与展望

6.1 全文总结

6.2 后续工作展望

致谢

参考文献

攻读硕士学位期间取得的成果