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摘要
第1章绪论
1．1研究背景及意义
1．1．1空间核电源的应用背景
1．1．2空间核电源环境应用的热电器件
1．2热电材料与器件的性能
1．2．1热电材料的性能
1．2．2热电器件的性能
1．3 SiGe和Half-Heusler热电材料
1．4热电材料的中子辐照效应研究进展
1．5 SiGe热电器件研究进展
1．6研究内容及目标
第2章实验方法
2．1实验材料和制备
2．2材料制备
2．2．1 SiGe热电材料的制备
2．2．2 Half-Heusler热电材料的制备
2．2．3 SiMo热端电极的制备
2．2．4 p型SiGe-x％SiMo复合材料的制备
2．3．1 SiGe热电材料的中子和γ射线辐照实验
2．3．2 Half-Heusler热电材料的中子辐照实验
2．4 SiGe热电器件中冷热端电极连接实验
2．4．1冷端SiGe／W的钎焊连接实验
2．4．2热端SiGe／SiMo的扩散连接实验
2．5性能表征和测试
2．5．1微观性能表征和测试
2．5．2热电性能测试
2．5．3界面性能测试
第3章SiGe热电材料的中子和γ射线辐照研究
3．1引言
3．2中子辐照前后SiGe热电材料的性能表征和测试
3．2．1 X射线衍射分析
3．2．2霍尔效应测试
3．2．3正电子湮没寿命谱分析
3．2．4 n型SiGe热电材料的热电性能
3．2．5 p型SiGe热电材料的热电性能
3．3电性能测试过程中高温环境对电导率的影响
3．4 SiGe热电材料的中子辐照损伤分析
3．5 SiGe热电材料的γ射线辐照研究
3．6小结与讨论
第4章Half-Heusler热电材料的中子辐照研究
4．1引言
4．2中子辐照后Half-Heusler热电材料的放射性活度分析
4．3中子辐照前后Half-Heusler热电材料的性能表征和测试
4．3．1 X射线衍射分析
4．3．2霍尔效应测试
4．3．3 p型Half-Heusler热电材料的热电性能
4．3．4 n型Half-Heusler热电材料的热电性能
4．4中子辐照对Half-Heusler热电元件性能的有限元分析
4．5结果分析
4．6小结与讨论
第5章冷端SiGe／W钎焊与热端SiGe／SiMo扩散连接研究
5．1引言
5．2．1冷端SiGe／W钎焊接头的界面微观形貌
5．2．2冷端SiGe／W钎焊接头的界面电阻率
5．2．3冷端SiGe／W钎焊接头的界面剪切强度
5．2．4冷端SiGe／W钎焊接头的界面热稳定性
5．3热端SiGe／SiMo扩散连接研究
5．3．1热端SiGe／SiMo扩散连接接头的界面微观形貌
5．3．2热端SiGe／SiMo扩散连接接头的界面电阻率
5．3．3热端SiGe／SiMo扩散连接接头的界面剪切强度
5．4小结与讨论
第6章SiGe热电器件的有限元分析与性能测试
6．1引言
6．2 SiGe热电元件的有限元分析
6．2．1 SiGe热电元件模型建立
6．2．2热端SiMo电极厚度变化对SiGe热电元件性能的影响
6．2．3电偶臂间距变化对SiGe热电元件性能的影响
6．3 SiGe热电器件的制备及性能测试
6．3．1器件制备及参数
6．3．2器件的输出性能
6．4小结与讨论
第7章p型SiGe-x％SiMo复合热电材料性能研究
7．1引言
7．2 p型SiGe-x％SiMo复合热电材料性能
7．2．1 X射线衍射分析
7．2．2微观结构分析
7．2．3霍尔效应测试
7．2．4热电性能
7．3 p型SiGe-20％SiMo复合热电材料的ANSYS分析
7．4小结与讨论
结论
参考文献
致谢
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果
中国科学技术大学;
