声明
摘要
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 锗的性质与应用
1.2.1 锗的物理性质
1.2.2 锗的化学性质
1.2.3 锗的应用
1.3 锗单晶
1.3.1 锗晶体的生长
1.3.2 锗片加工
1.3.3 锗单晶中存在的缺陷
1.4 研究进展
1.5 本文的主要内容和研究意义
第二章 实验设计
2.1 表面损伤由来和影响
2.2 锗半导体的抛光和腐蚀机理
2.3 缺陷显示
2.4 晶体表面测试仪器
2.4.1 测试方法
2.4.2 扫描电子显微镜
2.4.3 原子力显微镜
2.4.4 金相显微镜
2.4.5 超声仪介绍
2.5 实验部分
2.5.1 实验思路
2.5.2 实验材料
2.5.3 样品预处理
2.5.4 定性处理
2.6 实验方案的选择
2.7 本章小结
第三章 锗单晶片表面腐蚀研究
3.1 引言
3.2 实验操作
3.3 结果与讨论
3.3.1 腐蚀温度对于表面化学腐蚀抛光的影响
3.3.2 腐蚀液成分配比对于表面化学腐蚀抛光的影响
3.3.3 腐蚀时间对于表面化学腐蚀抛光的影响
3.4 本章小结
第四章 锗单晶切割片损伤层及位错研究
4.1 引言
4.2 实验部分
4.3 损伤层分析
4.4 位错计算
4.5 本章小结
第五章 结论与展望
参考文献
攻读学位期间的研究成果
致谢