声明
引言
1绪论
1.1交换偏置及其应用领域
1.2交换偏置理论模型概述
1.2.1经典模型
1.2.2平面磁畴壁模型
1.2.3随机场模型
1.2.4其它模型
1.3交换偏置国内外研究现状
1.4本文的研究思路与创新点
2材料制备与研究方法
2.1材料体系的选取
2.2薄膜样品的制备
2.2.1薄膜制备方法简介
2.2.2磁控溅射原理
2.2.3磁控溅射工艺参数
2.3实验方案与分析测试方法
2.3.1磁光克尔显微镜
2.3.2普通透射电子显微镜
2.3.3洛伦兹透射电子显微镜
2.3.4电子全息术简介
2.3.5聚焦离子束加工方法简介
3薄膜截面磁化过程分析
3.1宏观磁性能测试
3.2薄膜截面样品微观形貌与结构表征
3.3数值模拟计算
3.4原位磁化翻转过程
3.5高分辨率电子全息表征结果
3.6本章小结
4薄膜面内磁化过程分析
4.1宏观磁性能测试
4.2薄膜面内样品微观形貌与结构表征
4.3原位磁化翻转过程
4.4模型化分析
4.5本章小结
5结论
参考文献
附录A 实验原始数据补充
在学研究成果
致谢