首页> 外国专利> Magnetization reversal element using exchange bias, magnetoresistance effect element using exchange bias, magnetic memory using exchange bias, nonvolatile logic circuit, and magnetic neuron element

Magnetization reversal element using exchange bias, magnetoresistance effect element using exchange bias, magnetic memory using exchange bias, nonvolatile logic circuit, and magnetic neuron element

机译:使用交换偏置的磁化反转元件,使用交换偏置的磁阻效应元件,使用交换偏置的磁存储器,非易失性逻辑电路和磁性神经元元件

摘要

In this exchange bias utilization type magnetization reversal element, the antiferromagnetism which consists of 1st area | region (1a) and 2nd area | region antiferromagnetism (1b), and 3rd area | region antiferromagnetism (1c) located between those area | regions. In the driving layer antiferromagnetic (1) and the third region antiferromagnetic (1c), the magnetic coupling layer antiferromagnetic (2) magnetically coupled to the antiferromagnetic driving layer antiferromagnetic (1), A first electrode layer antiferromagnetic (5) bonded to the first region antiferromagnetic (1a); and a second electrode layer (6) bonded to the second region antiferromagnetic (1b).
机译:在该交换偏置利用型磁化反转元件中,由第一区域|反磁场构成的反铁磁性。区域(1a)和第二区域|区域反铁磁性(1b)和第三区域|位于这些区域之间的区域反铁磁性(1c)|地区。在驱动层反铁磁性(1)和第三区域反铁磁性(1c)中,磁性耦合层反铁磁性(2)磁耦合到反铁磁性驱动层反铁磁性(1),第一电极层反铁磁性(5)结合到第一区域反铁磁(1a);第二电极层(6)与第二区域反铁磁性(1b)结合。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2017213261A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TDK株式会社;

    申请/专利号JP20180521794

  • 发明设计人 柴田 竜雄;佐々木 智生;

    申请日2017-06-09

  • 分类号H01L21/8239;H01L27/105;H01L43/02;H01L43/08;H01L43/10;G11C11/15;G11C11/16;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:17:43

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号