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目 录
第一章 绪论
1.1 纳米测试技术
1.2 扫描探针显微镜技术
1.3 扫描探针精密测控中的关键技术的研究现状
1.4 课题研究意义和主要工作
第二章 扫描探针精密测控技术理论分析
2.1 AFM的探针Z向弯曲检测原理
2.2 微悬臂梁
2.3 压电陶瓷驱动器的理论分析
2.4 Z向反馈控制算法理论分析
2.5 本章小结
第三章 扫描探针精密测控技术实现方法
3.1 快速成像技术实现方法
3.2 基于AFM的单分子力谱精确测试方法
3.3 本章小结
第四章 AFM快速成像技术应用实验
4.1 AFM扫描成像实验系统
4.2 AFM正弦波扫描实验
4.3 基于智能模糊PI控制算法的AFM系统扫描实验
4.4 基于速率自适应算法的AFM系统扫描实验
4.5 本章小结
第五章 基于AFM的单分子力谱精确测试实验
5.1 基于AFM的单分子力谱实验系统
5.2 分子标尺法的实验结果
5.3 分子标尺方法验证实验
5.4本章小结
第六章 总结与展望
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢