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目录
第一章 绪论
1.1薄膜的发展和应用
1.2薄膜测试技术
1.3光谱干涉技术现状与问题
1.4论文主要内容
第二章 白光光谱干涉测量原理
2.1干涉原理
2.2部分相干光理论
2.3薄膜特性
2.4白光光谱干涉测量绝对距离与薄膜特性
2.5本章小结
第三章 测试系统构建
3.1测试系统
3.2系统硬件
3.3系统软件
3.4本章小结
第四章 白光光谱干涉数据处理
4.1相位提取
4.2方法分析比较
4.3优化拟合算法
4.4方法分析比较
4.5本章小结
第五章 实验结果与分析
5.1系统性能
5.2实验结果与分析
5.3本章小结
第六章 总结与展望
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢