声明
摘要
第1章 绪论
1.1 引言
1.2 生产调度问题简介
1.2.1 生产调度问题
1.2.2 三参数表示
1.3 半导体生产调度
1.3.1 工艺流程
1.3.2 问题特点
1.4 本文主要内容及结构安排
1.4.1 主要内容
1.4.2 结构安排
第2章 半导体功能测试工序调度优化
2.1 功能测试工序调度问题介绍
2.2 RSPS相关文献综述
2.3 混合整数规划模型
2.3.1 变量定义
2.3.2 目标函数与约束函数
2.4 求解RSPS的遗传算法
2.4.1 遗传算法概述
2.4.2 编码与解码
2.4.3 适配值函数与初始化方法
2.4.4 算子操作
2.5 求解RSPS的变邻域搜索算法
2.5.1 变邻域搜索算法总体流程
2.5.2 编码解码、初始解与SA Acceptance
2.5.3 Shaking
2.5.4 Local Search
2.6 算例实验
2.6.1 小规模算例
2.6.2 大规模算例
第3章 半导体老化测试工序调度优化
3.1 老化测试工序调度问题介绍
3.2 STS相关文献综述
3.3 混合整数规划模型
3.3.1 变量定义
3.3.2 目标函数与约束函数
3.4 几种求解STS的智能优化算法
3.4.1 遗传算法(Genetic Algorithm,GA)
3.4.2 模拟退火(Simulated Annealing,SA)
3.4.3 变邻域搜索(Variable Neighborhood Search,VNS)
3.4.4 混合变邻域搜索(VNSSA)
3.4.5 随机搜索(Random Search,RAN)
3.4.6 启发式规则(Heuristic Method,HM)
3.5 算例实验
3.5.1 初始解随机生成的算法对比
3.5.2 初始解由HM生成的算法对比
第4章 两阶段生产线调度优化
4.1 半导体芯片测试生产线调度问题介绍
4.2 RSFF相关文献综述
4.3 混合整数规划模型
4.3.1 参数定义
4.3.2 变量定义
4.3.3 目标函数与约束函数
4.4 求解RSFF的混合微粒群优化算法
4.4.1 微粒群优化算法概述
4.4.2 CPSO总体流程
4.4.3 编码与解码
4.4.4 初始化与初始解码
4.4.5 PSO更新操作
4.4.6 第一工序局部优化
4.4.7 第二工序局部优化
4.5 问题下界
4.6 算例实验
4.6.1 小规模算例
4.6.2 大规模算例
结论
致谢
参考文献
攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果