系统芯片测试调度模型及其调度算法

陈新武; 牟光臣; 柳青梅

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系统芯片测试调度模型及其调度算法

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系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间和功耗.在最大功耗约束下,提出了一种通用的测试调度算法,并针对构造的基准电路,给出了该调度算法的实现结果.

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来源
《信阳师范学院学报：自然科学版》 |2008年第2期|294-296|共4页
作者
陈新武; 牟光臣; 柳青梅;
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作者单位

信阳师范学院物理电子工程学院;

河南机电高等专科学校电子信息工程系;

华中科技大学图像识别与人工智能研究所IC设计中心;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
系统芯片; 调度算法; 测试资源; IP核; ITC02测试基准电路;

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