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目录
第一章 引言
§1.1 研究背景和意义
§1.2 研究现状
§1.3 论文研究内容
§1.4 论文结构
第二章 微处理器测试方法研究
§2.1 微处理器的结构特点
§2.2 基于可测性设计技术的测试方法
§2.3 基于功能故障模型的软件测试方法
§2.4 基于指令集的软件测试方法
§2.5 小结
第三章 嵌入式微处理器的总体测试设计
§3.1 测试方案设计
§3.2 微处理器存储器测试方法研究
§3.3 微处理器单元模块测试方法研究
§3.4 总体测试结构设计
§3.5 小结
第四章 微处理器存储器的BIST设计
§4.1 存储器的类型
§4.2 存储器的故障模型
§4.3 存储器测试算法分析
§4.4 存储器BIST控制器整体结构设计
§4.5 小结
第五章 基于指令集的微处理器单元模块的测试设计
§5.1 测试预处理阶段
§5.2 单元模块自测试设计
§5.3 测试与仿真验证
§5.4 小结
第六章 总结与展望
参考文献
致谢
作者在攻读硕士期间主要研究成果
桂林电子科技大学;