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目录
第一章 绪论
§1.1 课题来源
§1.2 课题研究背景及意义
§1.3 国内外研究现状
§1.4 论文的主要内容
第二章 ESPI测试系统概述
§2.1 电子散斑技术
§2.2半导体器件封装热可靠性
§2.3 ESPI测试系统整体框图
§2.4本章小结
第三章 热加载方式的确定及可靠性评价模型的建立
§3.1加速寿命试验热加载方式的探索
§3.2可靠性评价模型的建立
§3.3本章小结
第四章 温控系统设计及加速应力范围的确定
§4.1 温控系统硬件电路设计
§4.2 温控系统软件设计
§4.3 温控系统测试结果及误差分析
§4.4加速应力范围的确定
§4.5 本章小结
第五章 半导体器件可靠性测试
§5.1系统测试平台的搭建
§5.2半导体器件温度的测定
§5.3半导体器件可靠性评定
§5.4本章小结
第六章 总结与展望
§6.1总结
§6.2展望
参考文献
致谢
作者在攻读硕士期间的主要研究成