首页> 中文学位 >微波射频探针的去嵌入研究及测试应用
【6h】

微波射频探针的去嵌入研究及测试应用

代理获取

目录

声明

第一章 绪 论

1.1研究工作的背景与意义

1.2微波射频测试去嵌入技术简介

1.3国内外的研究发展现状

1.4.1研究内容与创新

1.4.2本论文的结构安排

第二章 传输线和微波网络的基础理论

2.1传输线理论

2.1.1传输线的分类

2.1.2同轴线理论

2.1.3传输线等效电路理论

2.2.1传播常数

2.2.2介电常数

2.2.3差分传输线的特性阻抗

2.3微波网络理论

2.3.1二端口网络参数

2.3.2二端口网络的级联

2.3.3差分网络参数

2.3.4差分网络的级联与验证

2.4本章小结

第三章 散射参数的去嵌入方法研究

3.1去嵌入测试系统模型建立

3.2单端网络的TRL去嵌入方法

3.2.1误差网络的修正

3.2.2利用直通和线校准件计算传播常数

3.3差分网络的去嵌入

3.3.1差分去嵌入方法的理论推导

3.3.2差分去嵌入的一些讨论

3.4本章小结

第四章 探针与校准件的设计

4.1.1单端探针的设计与仿真

4.1.2待测件与校准件的设计

4.2.1新型差分探针的考虑

4.2.2新型差分探针的仿真分析

4.2.3差分待测件和校准件的设计

4.3在片测试去嵌入的仿真

4.3.1单端网络去嵌入的验证分析

4.3.2差分网络去嵌入仿真分析

4.4本章小结

第五章 在片测试去嵌入的仿真分析及实验应用

5.1测试组件的加工

5.2测量的准备与步骤

5.3测试结果分析

5.3.1单端网络去嵌入测试结果

5.3.2差分网络去嵌入测试结果

5.4应用之介电常数分析

5.4.1介电常数测量方法实现

5.4.2介电常数仿真计算

5.4.3介电常数的实验测试结果

5.5本章小结

第六章 总结与展望

致谢

参考文献

攻读硕士学位期间取得的成果

展开▼

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号