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第一章 绪论
1.1可测性综合的概念
1.3传统的可测性综合工具的不足
1.4高层可测性综合的好处
1.5将VHDL语言作为基准的原因
本章参考文献
第二章 可测性设计综合技术回顾
2.1故障模型
2.2测试和可测性设计基本方法
2.2.1扫描方式(SCAN)
2.2.2内建自测试方式(BIST)
2.2行为级可测性综合
本章参考文献
第三章 RT级时序存储单元的识别和综合
3.1预处理工作及一些说明
3.2 时序存储单元的综合
3.2.1寄存器描述综合
3.2.2锁存器(latch)综合
3.3存储单元信息的保存
本章参考文献
第四章 RT级可测性检查和改进
4.1浮动节点的检测
4.2非时钟信号控制时钟的寄存器(gated clock Reg)处理
4.3对异步置位/复位触发器的改进
4.4对锁存器结构的改进
4.5组合环路检查
本章参考文献:
第五章RT级全扫描综合
5.1传统扫描链插入在RT级的实现
5.2全扫描方式中扫描链的优化选取算法
本章参考文献
第六章从RT级代码角度分析可测性
规则一根据实际需要定义信号和变量的值域。
规则二尽量避免使用多层嵌套IF语句
规则三初始化存储器元件
规则四尽量避免使用锁存器结构
本章参考文献
硕士期间发表论文情况