VHDL RT级可测性检查和改进

摘要

在VHDL RT级综合的基础上,提出了在RT级进行电路可测性检查和改进方法.与一般的可测性分析方法不同,该文不是基于对电路的可控制性和可观察性的量化分析,而是通过检查和改进可测性不佳的局部设计,使得整体电路的可测性得到提升,达到高故障覆盖率.